Rastrovací elektrónový mikroskop s príslušenstvom pre potreby stanovenia anorganických vláknitých častíc

Funkčná špecifikácia

Predmetom zákazky je rastrovací elektrónový mikroskop s príslušenstvom pre potreby stanovenia anorganických vláknitých častíc ( v ovzduší a v pevnej vzorke), ktorý je ovládaný prostredníctvom PC s príslušenstvom

Technická špecifikácia textová

Technické vlastnosti: Zdroj: W vlákno ( Volfrámové vlákno ), Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: W vlákna vopred vycentrované z výrobného závodu., Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Jednoduchá výmena W vlákien  bez nutnosti mechanického nastavovania užívateľom; jednoduchá obsluha bez použitia lupy alebo mikroskopu, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Režim vysokého vákua (HV), Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Režim nízkeho vákua (LV), Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Jednoduché softvérové prepínanie medzi režimami HV a LV (z režimu HV do LV a z režimu LV do HV), Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Tlak v komore min. do 100 Pa, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: BEI, SEI detektor, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: V režime HN ≤3,0 nm pri urýchľovacom napätí 30 kV, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: V režime HN ≤ 15,0 nm pri urýchľovacom napätí 1 kV, WD 6 mm, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: V režime LV ≤4,0 nm pri urýchľovacom napätie 30 Kv, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Zariadenie musí umožňovať priame zväčšenie aspoň v intervale 6x až 300 000x pri veľkosti štandardnej Polaroid snímky (3.4 ″ x 4.2 ″), Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Užívateľské recepty uložené v sw pre rôzne typy pozorovaných vzoriek, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Možnosť rozširovania užívateľských receptov, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Možnosť nastavenia prístupu jednotlivých používateľov, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Mechanicky a počítačom riadený eucentrický stolík pri všetkých pracovných vzdialenostiach, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Motorizácia stolíka min. v 2 osiach (X,Y,), Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Minimálny rozsah posuvu stolíka 40 mm v osiach X, Y aj Z, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Možnosť manuálneho ovládanie všetkých ôs stolíka, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Rozsah náklonu stolíka minimálne -5° až +80°, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Rotácia stolíka v rozsahu 360°, kontinuálny, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: SW na spájanie obrazov z veľkých plôch (z celej pozorovanej vzorky ) s automatickým ukladaním všetkých dát o vzorke z akéhokoľvek inštalovaného detektora ( vrátane EDS detektora , s možnosťou zobrazenia všetkých informácií pre každý jednotlivý obrazový pixel, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: SEM-in STEM pozorovanie, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Priemer pozorovanej plochy : min. 120 mm, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Farebná CCD kamera pre živé (live) zobrazenie priestoru vo vnútri komory mikroskopu s rozlíšením min. 4 Mpix s plynulým prepojením k motorizovanému stolíku, zabudovaná do riadiaceho softvéru mikroskopu vrátane GPS navigátora a ukladaním súradníc na vzorke . Neviditeľný prechod od optického zobrazenia na zobrazenie elektrónové - všetko zabudované v riadiacom SEM softvéri mikroskopu., Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Plne integrovaný EDS systém do základného softvéru na riadenie mikroskopu (GUI), Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Zabudovaná funkcia generovanej hĺbky signálu v GUI., Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: SDD detektor s minimálne 60mm2 aktívnou plochou čipu, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Kvalitatívna analýza , kvantitatívna analýza , analýza podĺž čiary , mapovanie, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Ovládací softvér zariadenia, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Softvér zariadenia: - typ GUI ( ovládanie všetkých funkcií z grafického užívateľského rozhrania ), kompatibilný s OS MS Windows 10 a novšími, automatické funkcie : nastavenie pozície vlákna a elektrónového zväzku , zaostrovanie , stigma, jas , kontrast, ukladanie súradníc vybraných bodov v závislosti na polohe stolíku , možnosť nastaviť automatický posuv stolíka do zadaných alebo skôr uložených pozícií, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Softvér zariadenia: obrazový výstup zo zariadenia aspoň vo formátoch BMP, TIFF a JPEG, rozlíšenie uloženého obrázku min. 5 120 x 3 840 pix, možnosť záznamu videa minimálne vo formáte AVI, možnosť živej 3D rekonštrukcie aktuálneho zobrazenia analyzovanej časti vzorky v reálnom čase, možnosť uloženia nastavenia pre aspoň 10 užívateľských účtov, ukladanie histórie použitia zariadenia podľa používateľa aspoň 30 dní spätne, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Softvér zariadenia: automatické načítanie typu držiaka vzorky (z dôvodu zabezpečenia kontroly dotyku držiaka vzorky vo vnútri komory , zabránenie poškodenia jednotlivých detektorov a pod .), možnosť offline práce s výstupmi zo zariadenia , tj bez toho , aby muselo byť zariadenie v prevádzke, funkcie na prípravu reportov a spracovania nameraných dát s využitím editovateľných šablón, možnosť exportu obrázkov , grafov a nameraných dát aspoň do MS Word, MS Excel, MS PowerPoint, PDF, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Typ detektora, Hodnota / charakteristika: SDD; bez nutnosti dopĺňania tekutého dusíka; Technické vlastnosti: Aktívne plocha detektora, Hodnota / charakteristika: 60mm2; Technické vlastnosti: Rozlíšenie detektora, Hodnota / charakteristika: 129eV alebo lepšie (55Fe, 5.9 keV, 1,000 cps); Technické vlastnosti: Spektrálna analýza, Hodnota / charakteristika: kvalitatívna analýza, kvantitatívna neštandardná analýza (ZAF korekcia , tenké vzorky ), bodová analýza; Technické vlastnosti: Phi-Rho-Z analýza pre presnejšiu analýzu vzoriek obsahujúcich ľahké a ťažké prvky, analýza s použitím štandardov, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Prepojenie so SEM, Hodnota / charakteristika: Automatické načítanie typu držiaka vzoriek a tým i zabezpečenie kontroly dotyku držiaka vzoriek vo vnútri komory a tým zabránenie poškodenia jednotlivých detektorov; Technické vlastnosti: Ovládanie všetkých funkcií z grafického užívateľského rozhrania mikroskopu, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Analýzy pozdĺž čiar (Line analysis), Hodnota / charakteristika: kvantitatívne analýzy pozdĺž vybranej čiary, možnosť lineárnych analýz z nazbieraných máp; Technické vlastnosti: Mapovanie (Elemental maping ), Hodnota / charakteristika: kvantitatívne mapy, automatická korekcia driftu počas mapovania, ukladanie spektier pre všetky pixely a možnosť off-line vytvárania dodatočne, nových máp z prvkov , ktoré neboli vopred definované; Technické vlastnosti: Analytický softvér, Hodnota / charakteristika: musí byť súčasťou ovládacieho softvéru; Technické vlastnosti: Analýzy pozdĺž čiar (Line analysis)- kvantitatívne analýzy pozdĺž vybranej čiary- možnosť lineárnych analýz z nazbieraných máp, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Mapovanie (Elemental mapping)- kvantitatívne mapy- automatická korekcia driftu v priebehu mapovania- ukladanie spektier pre všetky pixely a možnosť dodatočne offline vytvárať nové mapy z prvkov , ktoré neboli vopred definované- mapy s vysokým rozlíšením ( aspoň 4000x3000 pix )ukladanie jednotlivých snímok , z ktorých je zložená výsledná mapa umožňujúca štúdium zmien vzorky v priebehu analýzy, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Ovládací softvér EDS detektora :- musí byť nainštalovaný na ovládacom PC k zariadeniu a plne integrovaný do ovládacieho GUI softvéru zariadenia- musí umožňovať kvalitatívne a kvantitatívne analýzy , bodovú , čiarovú a plošnú analýzu a mapovanie vzorky- EDS analýza musí pracovať bez nutnosti zmeny polohy vzorky proti zobrazeniu zo zariadenia- EDS analýzu musí byť možné vykonávať na rovnako veľkom povrchu ako zodpovedá aktuálne zobrazenie zo zariadenia- EDS analýzu a mapovanie musí byť možné vykonávať v živom obraze zo zariadenia aj v reálnom čase, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Offline licencia, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Živé EDS spektrá, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Súčasťou dodávky musia byť všetky potrebné riadiace a komunikačné jednotky, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Plná integrácia EDSX systému do ovládacieho PC a softvéru mikroskopu vrátane prepojenosti SEM a EDSX funkcií, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: „ Instantná analýza “ – pomocou jedného kliku na SEM zobrazenie sa začne ihneď načítanie spektra a identifikácia prvku, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Rýchla EDS analýza ( kvalitatívna a kvantitatívna ) založená na úrovni na zobrazovacom kontraste detekovaných častíc, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Nastavovanie count rate z EDSX SW pomocou výberu cielenej hodnoty dead time. Rýchla modifikácia prúdu zväzku za účelom získania požadovaného countrate alebo dead time., Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Mikroskop nepotrebuje pre svoju funkčnosť žiadne technické plyny v tlakových fľašiach, ani žiadny kompresor.Zároveň mikroskop nepotrebuje prívod vody ani odpad., Hodnota / charakteristika: áno nepotrebuje; Technické vlastnosti: Vysoko výkonný PC, Hodnota / charakteristika: minimálne: HDD 2 TB, RAM 32 GB, procesor Intel Core i5, operačný systém windows 10, DVD mechanika +/-RW; Technické vlastnosti: Monitor: 1 x 24“ LCD plochý monitor s dotykovým ovládaním, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: DeskJet farebná tlačiareň A4, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Simultánne ovládanie: myš, klávesnica , OKB PANEL, LCD dotykový displej, Hodnota / charakteristika: áno; Technické vlastnosti: Akceleračné napätie, Hodnota / charakteristika: minimálne v rozsahu 500V-30kV

Technická špecifikácia číselná

Technické vlastnosti: Rastrovací elektrónový mikroskop s príslušenstvom pre potreby stanovenia anorganických vláknitých častíc, Jednotka: ks, Minimum: , Maximum: , Presná hodnota: 1