Zmluvný výskum - zariadenie pre stanovenie ľubovoľnej orientácie kryštálu VGF GaP

Detaily obstarávania

Obstarávateľ:

PHOSTEC, s.r.o.

Typ obstarávania:

Služby

EU fondy:

Áno

Odhadovaná suma(Bez DPH):

195 000,00

Mena:

EUR

Hlavný CPV kód:

73000000-2

Elektronická aukcia:

Nie

Rámcová dohoda:

Neuvedené

Postup:

Otvorená

Dátum vyhlásenia:

2. September 2014

Lehota na predkladanie ponúk:

17. Október 2014

Dátum otvárania ponúk:

17. Október 2014

Ponuka musí platiť do:

Dátum neuvedený

Miesto otvárania ponúk:

Miesto otvárania ponúk časť "Ostatné" a časť ponk "Kritéria" sa uskutoční v priestoroch firmy na adrese:PHOSTEC, s.r.o.,Železničná 5, 96604 Hliník nad Hronom. Otváranie časti ponúk označených ako Ostatné je neverejné. Obstarávateľ (komisia) vykoná všetky úkony podľa zákona, spočívajúce vo vyhodnotení tejto časti ponuky, podaní vysvetlenia, doplnení tejto časti ponuky, vo vyhodnotení splnenia podmienok účasti a vylúčení záujemcov alebo uchádzačov alebo vylúčení ponúk uchádzačov. Otváranie časti označených ako Kritériá bude vykonané len vo vzťahu k ponukám, ktoré neboli vylúčené, a to na mieste a v čase oznámenom uchádzačom, ktorých ponuky neboli vylúčené. Na tomto otváraní ponúk sa môžu zúčastniť všetci uchádzači, ktorí predložili ponuku v lehote na predkladanie ponúk a ktorých ponuka nebola vylúčená. Uchádzač (fyzická osoba), štatutárny orgán alebo člen štatutárneho orgánu uchádzača (právnická osoba) sa preukáže na otváraní obálok s ponukami preukazom totožnosti, poverený zástupca uchádzača sa preukáže preukazom totožnosti a plnou mocou na zastupovanie.

Ďalšie info ku otváraniu ponúk:

Rozdelenie na časti:

Nie

Zrýchlený postup:

Neuvedené

Dohoda o vládnom obstarávaní:

Nie

Opakované obstarávanie:

Nie

Chránená dielňa:

Neuvedené

Chránené pracovné miesto:

Neuvedené

Elektronické objednanie:

Neuvedené

Elektronická fakturácia:

Neuvedené

Elektronické platby:

Neuvedené

Ponuky vyhodnotené podľa

Kritérium:

Najnižšia cena

Detailné kritéria vo vestníku chýbajú

Opis obstarávania

Predmetom zákazky je obstaranie služieb výskumu a vývoja, a to: - vypracovanie spôsobu určenia kryštalografickej orientácie kryštálu VGF GaP, ktorá je ľubovoľná, t.j. pred meraním nie je známa ani približne, na báze difrakcie RTG žiarenia, pričom meraný materiál môže byť monokryštál v rôznom tvare ako napr. ingot, odrezok ingota, substrát, alebo polykryštál obsahujúci monokryštalické zrná rôznej veľkosti a rôznej orientácie, ktorý bude použitý napr. na výrobu zárodkov pre monokryštalický rast, - vyvíjané zariadenie bude pozostávať minimálne z dvoch pracovísk, z ktorých prvé pracovisko bude určené pre stanovenie kryštalografickej orientácie objemového materiálu ako napr. ingota resp. časti ingota pred jeho ďalším spracovaním, a druhé pracovisko bude určené pre kontrolu kryštalografickej orientácie spracovaného materiálu VGF GaP ako napr. substrátov VGF GaP, - prvé uvedené pracovisko bude ďalej spĺňať nasledovné požiadavky: 1) materiál VGF GaP môže byť meraný samostatne alebo spolu s držiakom, pričom váha meraného celku môže byť max. 50 kg a jeho výška max. 300 mm, 2) reprodukovateľnosť merania musí byť na úrovni 0,01° alebo lepšia, 3) doba jedného merania vrátane vyhodnotenia kratšia ako 10 s, - druhé uvedené pracovisko bude ďalej spĺňať nasledovné požiadavky: 1) zdroj RTG žiarenia spolu s príslušnou RTG optikou musí byť voči meranej vzorke polohovateľný v rozsahu uhla dopadu -20° až +120°, a detektor spolu s príslušnou optikou musí byť voči meranej vzorke polohovateľný v rozsahu uhla odrazu -40° až +170°, 2) reprodukovateľnosť nastavenia týchto uhlov musí byť na úrovni +/- 0,0001° pričom tieto uhly musia byť merané optickým dekodérom priamo na zariadení (nie sprostredkovane cez meranie pohybu motora resp. cez prevody), 3) požadovaná veľkosť vzorky je minimálne kruh o priemere 100 mm, 4) držiak vzorky musí umožňovať polohovanie vzorky v rovine XY v každej osi v rozsahu 100 mm za účelom mapovania vzorky, jej rotáciu v rozsahu +/- 360° a jej náklon v rozsahu +/- 90°, 5) použitá optika musí umožňovať meranie difrakcie a reflektivity vrátane hodnotenia kvality kryštalickej štruktúry v podpovrchovej oblasti ovplyvnenej defektmi mriežky.

Doplňujúce informácie

Vo vestníku neboli nájdené doplňujúce informácie.